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 比 較 顯 微 鏡
PB-343C比較顯微鏡能同理觀察到左右兩個被測物視場的像,從而對兩個被測物通過對接,重疊進行放大比較,以分辨二者的微小差異,可對槍彈痕跡、工具痕跡、指紋、印章、文字、錢幣、印刷品等進行比對。也適用於需要對物體進行比較鑒別的其他部門及研究單位。

比較觀察鏡筒具有多種觀察狀態:可觀察全部左圖像,全部右圖像,部分左右圖像,左右圖重疊等。

比較觀察鏡筒具有右側放大率微調補償機構; 比較觀察鏡筒總放大率為: 1X 可選單目頭、雙目頭、三目頭

比較觀察鏡筒視場大於 20mm 比較觀察鏡筒適用 195 物鏡

 比 較 顯 微 鏡 系 列
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PB-343C 比較顯微鏡 詳細規格