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較 顯 微 鏡 |
PB-4530比較顯微鏡能同理觀察到左右兩個被測物視場的像，從而對兩個被測物通過對接，重疊進行放大比較，以分辨二者的微小差異，可對槍彈痕跡、工具痕跡、指紋、印章、文字、錢幣、印刷品等進行比對。也適用於需要對物體進行比較鑒別的其他部門及研究單位。
比較觀察鏡筒具有多種觀察狀態：可觀察全部左圖像，全部右圖像，部分左右圖像，左右圖重疊等。
比較觀察鏡筒具有右側放大率微調補償機構； 比較觀察鏡筒總放大率為： 1X 可選單目頭、雙目頭、三目頭
比較觀察鏡筒視場大於 20mm 比較觀察鏡筒適用 195 物鏡 |
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